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灼热丝试验仪试验结果偏离的原因

作者:未知 发布于:2021-05-28 15:02 点击量:

  灼热丝试验的实施主要依赖于测试装置来进行,试验操作相对比较简单,因此一些试验人员认为该检测项目出现结果偏离的原因主要集中于样品预的处理、样品的装夹位置和试验时的环境。其实这种认为并不全面,在灼热丝试验中除上述关注要点之外还有多个环节会对测试结果是否偏离起着至关重要的影响,分析如下:
 
  当被试样品触及灼热丝时,灼热丝温度会有一个明显的先降后升的过程。为了解决这一问题,有些国外灼热丝试验装置制造商在早期制造的试验装置中装有了用于保持温度稳定的反馈装置,以使试验设备在进行灼热丝试验的整个过程中灼热丝温度是恒定的。
 
  随着标准的不断完善,这种做法在标准中予以了否定。在现行的GB/T5169.10-2⑴"VIECGOSQO-Z-IO^OOO121标准5.1中明确规定“在试验装置加热电路中不应有用于保持温度的反馈装置或反馈回路”。
 
  然而有些实验室对早期购置的带温度反馈装置的灼热丝试验装置未能按标准要求进行改进,致使用于保持温度的反馈装置仍被继续使用。根据统计,虽然在先降后升过程中下降值和回升值的多少会随预定试验温度的不同而有所不同,但在这一过程中下降温度一般会比预定温度下降100°c左右,回升后温度会超过预定温度20°C左右。
 
  因此如果使用带有温度恒定装置的灼热丝试验设备进行测试无疑是加严了测试条件。有两个方面的规定。一个是灼热丝顶部的校验,主要内容是需对灼热丝顶部尺寸进行验证;另一个是温度测量系统的校验,主要内容是提供灼热丝试验装置中温度测量系统的校验方法即“银箔法”。
 
  然而,目前有些实验室在理解并执行该段标准要求时存在断章取义的现象,主要表现为有些实验室对灼热丝试验装置在计量方面不进行外检,而是采用自校的方式,并且自校的方法仅使用“银箔法”进行。对于这种做法,笔者认为自校是可以的,但是仅用“银箔法”进行自校是不妥的。
 
  因为“银箔法”只对试验装置温度测量系统进行了校验,而忽略了灼热丝顶部尺寸尤其是热点偶放置位置对灼热丝测试结果影响的重要性。在GB/T5169.10-2006111/IEC60590-2-10:2000121标准中明确规定灼热丝头部表面与热电偶的距离应为0.6±0.2mm。

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